時(shí)間分辨熒光共聚焦顯微成像及光譜系統(tǒng)TRPL Mapping

TRPL Mapping系統(tǒng)簡介：

時(shí)間分辨熒光共聚焦顯微成像及光譜系統(tǒng) MicroTime100 & FluoTime300將正置共聚焦熒光壽命顯微鏡和熒光壽命光譜儀結(jié)合在一起，能實(shí)現(xiàn)幾百nm的空間分辨率和ps~s的熒光壽命測試和光譜測試。能用于檢測：熒光共聚焦成像、熒光壽命成像、時(shí)間分辨光譜、穩(wěn)態(tài)激發(fā)/發(fā)射譜、時(shí)間分辨熒光共聚焦顯微光譜、自由選取ROI的微區(qū)（時(shí)間分辨）熒光成像和（時(shí)間分辨）光譜，并且支持升級(jí)單分子光譜功能（閃爍，反聚束）、拓展了FLIM和紅外部分，適用于諸多薄膜、納米材料的研究，是研究時(shí)間分辨光致發(fā)光的理想工具。

TRPL Mapping系統(tǒng)工作原理圖：

2、CIGS MAPPING

對(duì)CIGS材料的mapping，通過熒光壽命的分析，可以直觀看出缺陷

3、perovskite solar cells